Hoy ha habido un seminario sobre Espectroscopía de intercambio de carga en el CIEMAT con el TJ II. Me hubiera gustado ir pero no he podido. ¿Alguien conoce la instrumentación de que se dispone en el TJ II para estos estudios?
Saludos

Buenas;
Pues en concreto, se ha diseñado todo un sistema de CXRS (espectroscopia por intercambio de carga) para analizar las temperaturas y velocidades de rotación de las impurezas del plasma. El sistema consta de un inyector de neutros dedicado al diagnóstico, un sistema multicanal de fibras y lentes, CCD y espectrómetro holográfico de alto rendimiento para dicho análisis. El inyector de diagnóstico también es utilizado por el CNPA (analizador compacto de partículas neutras), cuyo objetivo es obtener perfiles de temperatura iónica en TJ-II.
Saludos

Hola.
Jose Miguel, muchas gracias por tu información.
Yo he hecho estudios de metales altamente ionizados (tipo NiX, XI...) en plasmas producidos por láser y mediante fuentes de iones de ECR. En los plasmas producidos por láser un problema es lo rápido que decaen los iones altamente ionizados (son muy densos, cumpliendo fácilmente equilibrio termodinámico local), por lo que los detectores (ICCD) han de ser muy rápidos y con resolución temporal. ¿En TJ- II hay ese problema para las impurezas?. ¿Está preparado el sistema para el margen espectral VUV y Visible?.
Soy profesor de Física y me interesa mucho la espectroscopía de iones.
Un cordial saludo.